Комплекс электротермотренировки FTT-17 (Совтест АТЕ, Россия)

Комплексы электротермотренировки ООО «Совтест АТЕ» предназначены для широкого применения как в условиях серийного производства, на этапах изготовления изделий, так и на входном контроле, предприятий, использующих изделия микроэлектроники, а также предприятий, занимающихся сертификационными испытаниями компонентов. Комплекс электротермотренировки может использоваться при проведении испытаний на безотказность (ОСТ 11 073.013 метод 700-1, 700-2.1), а также испытаний на воздействие повышенной температуры рабочей среды (ОСТ 11 073.013 метод 204). Комплекс является модульной конструкцией и может гибко видоизменяться, исходя из требований Заказчика к проведению испытаний.

Рентгеноскопическая система (X-Ray) модель XD7600NT фирмы DAGE (Великобритания)

Контроль узлов пайки электронных компонентов (включая SMD компоненты), а также ИМС в корпусах BGA, µBGA, CSP, flip chip и QFP. Контроль монтажа межсоединений  в чипе. Контроль полупроводниковых кристаллов. Контроль электронных компонентов.  Контроль провисания проводников внутри ИМС. Опция компьютерной томографии 3D-CT – позволяющая получать объемную модель исследуемого образца.  

Автоматическая зондовая установка для тестирования полупроводниковых пластин UF2000 фирмы Accretech (Япония)

Томографическая тестовая система Модель Mach 3

Томографическая тестовая система предназначена для неразрушающего метода контроля радиоэлектронных изделий на компонентном уровне.

Тестовая система INTEGRA J750 для функционального и параметрического контроля БИС (Teradyne, США)

Тестер модель INTEGRA J750 представляет собой 512 канальную высокопроизводительную тестовую систему, позволяющую реализовать параллельное тестирование до 32 компонентов.

Тестеры на платформе FLEX для функционального и параметрического тестирования цифровых и аналоговых микросхем (Teradyne, США)

FLEX – новое поколение тестеров, расширяющее возможности великолепно зарекомендовавших себя на рынке систем Integra (J750).

Многофункциональный тестер соединений CONDOR 70-3

Установка автоматической оптической инспекции AOI 45

Данная система представляет собой отдельно стоящую или встраиваемую в линию установку автоматической оптической инспекции толстых пленок в гибридной технологии, LTCC керамики, полупроводниковых пластин, солнечных батарей, сенсоров, смарт-карт и т.д. Инспектируемыми материалами могут быть резистивные и паяльные пасты, диэлектрики и др.

Установка лазерной подгонки для толсто и тонкопленочной технологии ALS300

Установка представляет собой универсальную систему лазерной подгонки, используемую для функциональной и омической подгонки